X射線熒光分析
X射線熒光分析(XRF)技術,是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。當原子受到X射線光子(初級X射線)或其他粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位時,原子內層電子便重新配位,較外層的電子躍遷到內層電子空位,同時發射出次級X射線光子,即X射線熒光:較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差,因此X射線熒光的波長對不同元素是不同的。
X射線熒光分析(XRF)技術,是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子,使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。當原子受到X射線光子(初級X射線)或其他粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位時,原子內層電子便重新配位,較外層的電子躍遷到內層電子空位,同時發射出次級X射線光子,即X射線熒光:較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差,因此X射線熒光的波長對不同元素是不同的。
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